Информационная безопасность на микро- и наноуровнях
Описание курса
Современный этап развития информационных технологий характеризуется бурным прогрессом информационных систем, в том числе беспроводных, быстрым освоением элементной базы с наноразмерными топологическими нормами, интеграцией на одном кристалле процессорных, преобразовательных, радиоприемных и радиопередающих модулей, а также приданием кристаллу сенсорных, информационных и исполнительных функций. Одной из приоритетных задач является создание защищенной информационной среды, разработка и практическое внедрение безопасных информационно-телекоммуникационных систем и комплексов отечественного производства.
Проблема возникновения информационных угроз на микро- и наноуровнях особенно остро стоит при применении современных микросистем иностранного производства в радиоэлектронной аппаратуре различного назначения. Анализ методов информационной защиты микро- и наносистем позволит разработчикам отечественной элементной базы создать надёжную, качественную и безопасную электронную продукцию, отвечающую запросам современного рынка.
В рамках курса слушатели познакомятся с:
-
изложением системного подхода к анализу угроз безопасности на микро- и наноуровне;
-
описанием путей повышения защищённости высоко-интегрированных информационных микро- и наносистем при использовании контактного и бесконтактного интерфейсов;
-
определением направлений противодействия несанкционированному доступу к информационным и аппаратным ресурсам микро- и наносистем.
Будет полезно
Студентам широкого круга специальностей, в программе обучения которых курс, посвящённый разработке микросистем и информационной безопасности, изучается в базовой, вариативной или факультативной частях
Научным сотрудникам и инженерам, специализирующимся в области тестирования и контроля электронной компонентной базы
Аспирантам, преподавателям, научным работникам и инженерам, специализирующимся в области разработки ЭКБ информационной электроники и информационно-телекоммуникационных систем и комплексов отечественного производства
Вы научитесь
Анализировать методы информационной защиты микро- и наносистем с целью создания надёжной, качественной и безопасной электронной продукции
Использовать теоретические и практические знания в области обеспечения информационной безопасности современной электронной компонентной базы
Актуальность
Курс подготовлен совместно с коллективом Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ».
Программа курса
- Информационная безопасность на микро- и наноуровнях
- Понятие реинжиниринга (обратного проектирования)
- Стадии и методы обратного проектирования ЭКБ
- Специализированные программные средства для обратного проектирования ЭКБ
- Противодействие обратному проектированию
- Введение
- Особенности организации и принцип работы систем, использующих RFID-технологию
- Уязвимости и методы защиты считывателя системы, использующей RFID-технологию
- Защита данных, хранящихся на RFID-метке
- Радиочастотный интерфейс взаимодействия RFID-метки и считывателя
- Структура и алгоритм работы блока аутентификации
- Заключение
- Особенности корпусирования кристаллов ИС
- Механическое и химическое препарирование корпусов ИС
- Жидкостно-химическое препарирование кремниевых кристаллов и систем коммутации ИС
- Препарирование корпуса и кристалла ИС с тыльной стороны
- Ионно-плазменное послойное препарирование систем коммутации кристаллов ИС
- Ионно-лучевое и ионно-стимулированное химическое препарирование кристаллов ИС
- Декорирование поверхности и поперечных сечений кристаллов кремниевых ИС
- Суть тополого-схемотехнического анализа
- Системы визуализации топологии и покадровое совмещение
- Межслойное совмещение
- Выявление функционального блока
- Восстановление электрической схемы
- Библиотеки топологических элементов
- Классификация интегральных схем
- Конструктивно-технологические особенности интегральных схем
- Определение элементного состава структурообразующих слоев
- Измерение геометрических параметров структуры
- Анализ поперечного сечения
- Введение
- Методика классификации параметров встроенных spice-моделей
- Определение основных параметров, влияющих на точность моделирования при использовании программы SPICE. Статические и динамические характеристики МОП-структур
- Контрольные оценки значений параметров SPICE-модели
- Определение характерных диапазонов изменения параметров моделирования, построение SPICE-модели
- Определение параметров интегральных резисторов
- Определение статических характеристик транзисторов
- Восстановление электрической схемы
- Введение
- Виды атак на криптосистемы
- Анализ микроконтроллеров
- Способы анализа энергопотребления
- Математические модели и статистический анализ
- Современное состояние и направления дальнейшего развития
- Подготовительный этап реинжиниринга
- Декапсуляция корпуса электронного устройства
- Зондовый анализ
- Электронно-зондовое тестирование
- Атомно-силовое тестирование
- Воздействие на элементы памяти и заключение
- Обзор защищенности микро- и наносистем
- Защита от инвазивного реинжиниринга
- Защита от полуинвазивного реинжиниринга
- Защита от неинвазивного реинжиниринга и заключение
- Последствия применения продукции контрафактного происхождения
- Объемы, признаки и методы выявления контрафактной продукции
- Виды признаков контрафактного происхождения электронной компонентной базы, выявляемые с помощью визуально-оптического контроля
- Виды признаков контрафактного происхождения электронной компонентной базы, выявляемые с помощью рентгеновской микроскопии
- Виды признаков контрафактного происхождения электронной компонентной базы, выявляемые с помощью акустической микроскопии
- Отечественная контрафактная продукция
- Заключение
Авторы
на обработку персональных данных
Мобильное приложение edunano.ru
