Информационная безопасность на микро- и наноуровнях

3 000
Срок доступа 60 дней
Описание курса

Курс формирует компетенции и навыки в области противодействия информационным угрозам, а также учит анализу методов информационной защиты микро- и наносистем, используемых в электронных, радиоэлектронных и информационных системах. 

Подготовлен совместно с коллективом Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ». 


Современный этап развития информационных технологий характеризуется бурным прогрессом информационных систем, в том числе беспроводных, быстрым освоением элементной базы с наноразмерными топологическими нормами, интеграцией на одном кристалле процессорных, преобразовательных, радиоприемных и радиопередающих модулей, а также приданием кристаллу сенсорных, информационных и исполнительных функций. Одной из приоритетных задач является создание защищенной информационной среды, разработка и практическое внедрение безопасных информационно-телекоммуникационных систем и комплексов отечественного производства.

Проблема возникновения информационных угроз на микро- и наноуровнях особенно остро стоит при применении современных микросистем иностранного производства в радиоэлектронной аппаратуре различного назначения. Анализ методов информационной защиты микро- и наносистем позволит разработчикам отечественной элементной базы создать надёжную, качественную и безопасную электронную продукцию, отвечающую запросам современного рынка.

В рамках курса слушатели познакомятся с:

  • изложением системного подхода к анализу угроз безопасности на микро- и наноуровне; 

  • описанием путей повышения защищённости высоко-интегрированных информационных микро- и наносистем при использовании контактного и бесконтактного интерфейсов; 

  • определением направлений противодействия несанкционированному доступу к информационным и аппаратным ресурсам микро- и наносистем.

Содержание курса
1
Информационная безопасности интегральных микро- и наносистем
  • Информационная безопасность на микро- и наноуровнях
  • Понятие реинжиниринга (обратного проектирования)
  • Стадии и методы обратного проектирования ЭКБ
  • Специализированные программные средства для обратного проектирования ЭКБ
  • Противодействие обратному проектированию
2
Угрозы информационной безопасности микро- и ноносистем при реализации RFID-технологий. Уязвимости и методы защиты
  • Введение
  • Особенности организации и принцип работы систем, использующих RFID-технологию
  • Уязвимости и методы защиты считывателя системы, использующей RFID-технологию
  • Защита данных, хранящихся на RFID-метке
  • Радиочастотный интерфейс взаимодействия RFID-метки и считывателя
  • Структура и алгоритм работы блока аутентификации
  • Заключение
3
Инвазивный реинжиниринг микро- и наносистем. Декапсуляция микро- и наносистем
  • Особенности корпусирования кристаллов ИС
  • Механическое и химическое препарирование корпусов ИС
  • Жидкостно-химическое препарирование кремниевых кристаллов и систем коммутации ИС
  • Препарирование корпуса и кристалла ИС с тыльной стороны
  • Ионно-плазменное послойное препарирование систем коммутации кристаллов ИС
  • Ионно-лучевое и ионно-стимулированное химическое препарирование кристаллов ИС
  • Декорирование поверхности и поперечных сечений кристаллов кремниевых ИС
4
Инвазивный реинжиниринг микро- и наносистем. Тополого-схемотехнический анализ
  • Суть тополого-схемотехнического анализа
  • Системы визуализации топологии и покадровое совмещение
  • Межслойное совмещение
  • Выявление функционального блока
  • Восстановление электрической схемы
  • Библиотеки топологических элементов
5
Инвазивный реинжиниринг микро- и наносистем. Конструкторско-технологический анализ
  • Классификация интегральных схем
  • Конструктивно-технологические особенности интегральных схем
  • Определение элементного состава структурообразующих слоев
  • Измерение геометрических параметров структуры
  • Анализ поперечного сечения
6
Инвазивный реинжиниринг микро- и наносистем/Функциональное тестирование
  • Введение
  • Методика классификации параметров встроенных spice-моделей
  • Определение основных параметров, влияющих на точность моделирования при использовании программы SPICE. Статические и динамические характеристики МОП-структур
  • Контрольные оценки значений параметров SPICE-модели
  • Определение характерных диапазонов изменения параметров моделирования, построение SPICE-модели
  • Определение параметров интегральных резисторов
  • Определение статических характеристик транзисторов
  • Восстановление электрической схемы
7
Неинвазивный реинжиниринг микро- и наносистем
  • Введение
  • Виды атак на криптосистемы
  • Анализ микроконтроллеров
  • Способы анализа энергопотребления
  • Математические модели и статистический анализ
  • Современное состояние и направления дальнейшего развития
8
Полуинвазивный реинжиниринг микро- и наносистем
  • Подготовительный этап реинжиниринга
  • Декапсуляция корпуса электронного устройства
  • Зондовый анализ
  • Электронно-зондовое тестирование
  • Атомно-силовое тестирование
  • Воздействие на элементы памяти и заключение
9
Методы защиты от реинжиниринга на микро-и наноуровнях
  • Обзор защищенности микро- и наносистем
  • Защита от инвазивного реинжиниринга
  • Защита от полуинвазивного реинжиниринга
  • Защита от неинвазивного реинжиниринга и заключение
10
Проблема контрафактных микро- и наносистем и методы защиты
  • Последствия применения продукции контрафактного происхождения
  • Объемы, признаки и методы выявления контрафактной продукции
  • Виды признаков контрафактного происхождения электронной компонентной базы, выявляемые с помощью визуально-оптического контроля
  • Виды признаков контрафактного происхождения электронной компонентной базы, выявляемые с помощью рентгеновской микроскопии
  • Виды признаков контрафактного происхождения электронной компонентной базы, выявляемые с помощью акустической микроскопии
  • Отечественная контрафактная продукция
  • Заключение
ПОДЕЛИТЬСЯ В СОЦИАЛЬНЫХ СЕТЯХ
Авторы курса
ЛУЧИНИН

ВИКТОР ВИКТОРОВИЧ

Доктор технических наук, профессор, заведующий кафедрой микро- и наноэлектроники СПбГЭТУ «ЛЭТИ», директор Инжинирингового центра Микротехнологии и диагностики

ВСЕ КУРСЫ АВТОРА
ГАСНИКОВ

АЛЕКСЕЙ ОЛЕГОВИЧ

Ассистент кафедры микро- и наноэлектроники СПбГЭТУ «ЛЭТИ», к.т.н.

ВСЕ КУРСЫ АВТОРА
КАЛИНИН

СТАНИСЛАВ БОРИСОВИЧ

Научный сотрудник Центра микротехнологии и диагностики СПбГЭТУ «ЛЭТИ»

ВСЕ КУРСЫ АВТОРА
ЛЕВИН

РОМАН ГРИГОРЬЕВИЧ

Первый заместитель генерального директора АО «РНИИ «Электронстандарт», к.ф-м.н.

ВСЕ КУРСЫ АВТОРА
КОНДРАШОВ

КИРИЛЛ КОНСТАНТИНОВИЧ

Инженер Центра микротехнологии и диагностики СПбГЭТУ «ЛЭТИ»

ВСЕ КУРСЫ АВТОРА
ТРУШЛЯКОВА

ВАЛЕНТИНА ВЛАДИМИРОВНА

Доцент кафедры микро- и наноэлектроники СПбГЭТУ «ЛЭТИ»

ВСЕ КУРСЫ АВТОРА
По окончании курса вы сможете
анализировать методы информационной защиты микро- и наносистем с целью создания надёжной, качественной и безопасной электронной продукции
использовать теоретические и практические знания в области обеспечения информационной безопасности современной электронной компонентной базы
ПОДЕЛИТЬСЯ В СОЦИАЛЬНЫХ СЕТЯХ
Для кого этот курс
студенты широкого круга специальностей, в программе обучения которых курс, посвящённый разработке микросистем и информационной безопасности, изучается в базовой, вариативной или факультативной частях
научные сотрудники и инженеры, специализирующиеся в области тестирования и контроля электронной компонентной базы
аспиранты, преподаватели, научные работники и инженеры, специализирующиеся в области разработки ЭКБ информационной электроники и информационно-телекоммуникационных систем и комплексов отечественного производства
ПОДЕЛИТЬСЯ В СОЦИАЛЬНЫХ СЕТЯХ
Отзывы
Отзывов пока нет
Авторизуйтесь, чтобы оставить отзыв
ПОДЕЛИТЬСЯ В СОЦИАЛЬНЫХ СЕТЯХ
Мы на связи!