«Метрология в нанодиапазоне: применение для оценки качества продукции в компаниях наноиндустрии»

О мероприятии

Вебинар познакомит участников с основными направлениями и тенденциями развития нанометрологии. Слушатели узнают об этапах развития, текущем состоянии нанометрологии и перспективах ее развития. Спикер расскажет об основных направлениях развития нанометрологии, отметит ее особенности и практическое применение в наноиндустрии.

МАТЕРИАЛЫ
ПРОГРАММА
Ключевые вопросы вебинара:
  • сущность нанометрологии;
  • нанообъекты;
  • методы исследований нанообъектов;
  • метрологическое обеспечение наноизмерений;
  • практическое применение нанометрологии на примере действующих предприятий наноиндустрии;
  • перспективы развития нанометрологии.
СПИКЕРЫ
ТОКУНОВ

ЮРИЙ МАТВЕЕВИЧ

Кандидат физико-математических наук, технический директор Метрологического центра ОАО "РОСНАНО"

СТРАНИЦА АВТОРА
Мы на связи!